
天津國電儀訊科技有限公司
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主營(yíng):測試儀器
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信號源何時(shí)誕生?經(jīng)歷了怎樣的發(fā)展歷程?
信號源是一種古老的測試測量?jì)x器,伴隨著(zhù)整個(gè)儀器的發(fā)展周期,世界上臺信號源誕生于20世紀20年代。隨著(zhù)通信和雷達技術(shù)的發(fā)展,20世紀40年代出現了主要用于測試各種接收機的標準信號發(fā)生器,使信號源的應用范疇從定性分析演進(jìn)到了定量分析的范疇,同一時(shí)期還出現了可用作脈沖調制器的脈沖信號發(fā)生器。
早期的信號發(fā)生器機械結構復雜,功率較大,電路比較簡(jiǎn)單,發(fā)展速度非常慢。這種窘境直到1964年世界上出現了臺全晶體管的信號源之后才得到改觀(guān)。此后出現了函數






測試中所用的信號發(fā)生器,常需要提供有一定調制形式的信號。因此,對信號發(fā)生器可按調制類(lèi)型分為調幅、調頻、脈沖調制及組合調制等。高頻信號發(fā)生器一般是調幅的,甚高頻信號發(fā)生器應有調幅和調頻,超高頻和微波信號發(fā)生器應有脈沖調制。
此外,可以按產(chǎn)生頻率的方法分為普通信號發(fā)生器、掃頻信號發(fā)生器和程控信號發(fā)生器。后兩種廣泛應用于自動(dòng)或半自動(dòng)測試系統。
綜上所述,信號發(fā)生器門(mén)類(lèi)眾多,應用廣泛,涉及面很寬。因此,在學(xué)習中,應注意了解各類(lèi)信號發(fā)生器的特點(diǎn);應用中,要分清不同條件下的使用。另外,信號發(fā)生器即使經(jīng)過(guò)計量檢定,符合技術(shù)指標,但如果使用不當,仍然得不到正確的結果。
通過(guò)外接衰減器改善射頻信號發(fā)生器的匹配
信號發(fā)生器的測量不確定度,是指由于信號發(fā)生器的輸出阻抗不是理想的50Ω,使得輸出信號進(jìn)入理想負載后,有一部分會(huì )被反射回去,而信號發(fā)生器又不能完全吸收這部分反射信號,其中部分反射信號會(huì )再次輸出到負載,這種來(lái)回反射會(huì )改變被測器件的有效輸入電平,從而導致測量的不確定性。每一個(gè)信號發(fā)生器都會(huì )有一個(gè)關(guān)鍵指標VSWR,是專(zhuān)門(mén)用于度量它的測量不確定度的。
改善射頻信號發(fā)生器測量不確定度的一個(gè)簡(jiǎn)單有效方法,就是在信號發(fā)生器輸出端外接一個(gè)匹配良好的固定衰減器。
當我們對某個(gè)指標有較高要求,而手上的信號發(fā)生器達不到的時(shí)候,可以使用以上的幾種方法作為臨時(shí)的解決方案。但是這些方法,均需要增加一些額外的成本,并且會(huì )使整個(gè)測試系統變得更加復雜,所以在運用的時(shí)候,需要進(jìn)行綜合考慮,確保既能夠達到我們的測試目的,又不引入新的誤差。

吳經(jīng)理先生
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