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發(fā)生器，掃頻信號發(fā)生器，合成信號發(fā)生器，程控信號發(fā)生器等新種類(lèi)，信號源的各項指標都得到了大幅提高。但是采用模擬電子技術(shù)的信號源由分立器件或模擬集成電路構成，不僅電路結構復雜，而且只能產(chǎn)生種類(lèi)非常有限的簡(jiǎn)單波形。更令人頭疼的是，模擬電路的漂移較大，使得信號源輸出波形的幅度穩定性很差。

自從70年代微處理器出現以后，利用微處理器和DAC可以使得信號源的功能進(jìn)一步擴大，能夠產(chǎn)生比較復雜的波形。但是，這種方案有一個(gè)很?chē)乐氐娜毕荩狠敵霾ㄐ蔚念l率低主要是由CPU的工作頻率決定的，這就意味著(zhù)只能通過(guò)縮短軟件執行時(shí)間或提高CPU的時(shí)鐘頻率來(lái)提高信號源輸出波形的頻率，具有很大的局限性。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

測試中所用的信號發(fā)生器，常需要提供有一定調制形式的信號。因此，對信號發(fā)生器可按調制類(lèi)型分為調幅、調頻、脈沖調制及組合調制等。高頻信號發(fā)生器一般是調幅的，甚高頻信號發(fā)生器應有調幅和調頻，超高頻和微波信號發(fā)生器應有脈沖調制。

此外，可以按產(chǎn)生頻率的方法分為普通信號發(fā)生器、掃頻信號發(fā)生器和程控信號發(fā)生器。后兩種廣泛應用于自動(dòng)或半自動(dòng)測試系統。

綜上所述，信號發(fā)生器門(mén)類(lèi)眾多，應用廣泛，涉及面很寬。因此，在學(xué)習中，應注意了解各類(lèi)信號發(fā)生器的特點(diǎn);應用中，要分清不同條件下的使用。另外，信號發(fā)生器即使經(jīng)過(guò)計量檢定，符合技術(shù)指標，但如果使用不當，仍然得不到正確的結果。

通過(guò)外接衰減器改善射頻信號發(fā)生器的匹配

信號發(fā)生器的測量不確定度，是指由于信號發(fā)生器的輸出阻抗不是理想的50Ω，使得輸出信號進(jìn)入理想負載后，有一部分會(huì )被反射回去，而信號發(fā)生器又不能完全吸收這部分反射信號，其中部分反射信號會(huì )再次輸出到負載，這種來(lái)回反射會(huì )改變被測器件的有效輸入電平，從而導致測量的不確定性。每一個(gè)信號發(fā)生器都會(huì )有一個(gè)關(guān)鍵指標VSWR，是專(zhuān)門(mén)用于度量它的測量不確定度的。

改善射頻信號發(fā)生器測量不確定度的一個(gè)簡(jiǎn)單有效方法，就是在信號發(fā)生器輸出端外接一個(gè)匹配良好的固定衰減器。

當我們對某個(gè)指標有較高要求，而手上的信號發(fā)生器達不到的時(shí)候，可以使用以上的幾種方法作為臨時(shí)的解決方案。但是這些方法，均需要增加一些額外的成本，并且會(huì )使整個(gè)測試系統變得更加復雜，所以在運用的時(shí)候，需要進(jìn)行綜合考慮，確保既能夠達到我們的測試目的，又不引入新的誤差。