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直接測量方案由成都玖錦的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀VNA1000A、掃描支架、近場(chǎng)測試探頭、待測天線(xiàn)支架、主控PC、掃描控制器以及微波暗室組成。將待測天線(xiàn)AUT作為發(fā)射端，測試探頭作為接收端（可根據實(shí)際情況變換）。VNA1000A的一個(gè)端口發(fā)射信號，另一端口作為接收端口。在各掃描點(diǎn)測量接收信號b和發(fā)射信號a的比值（幅度，相位）。在必要的情況下，可以用功率放大器將發(fā)射信號放大，在接收天線(xiàn)后采用低噪聲放大器提高系統靈敏度。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

與其它方法相比，使用VNA進(jìn)行以上測量有三個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先，只用一臺測試儀器，只進(jìn)行一次連接便能對全部參數進(jìn)行測量：S參數、增益壓縮、輸出諧波、IMD等等。其次，與使用頻譜分析儀相比，用功率計對VNA進(jìn)行校準之后，測量精度更高。后，如果使用一臺頻譜分析儀和兩個(gè)獨立的信號源進(jìn)行同樣的測試，完成測試需要花幾分鐘的時(shí)間，但使用PNA-X只需0.6秒。

相位與驅動(dòng)的關(guān)系是用PNA-X很容易完成的另一種常見(jiàn)的雙信號源測試。這個(gè)測試參數表征的是當在相鄰通道或帶外存在大信號時(shí)，放大器處理小信號的能力。測試的方法是把不同頻率的一個(gè)大信號和一個(gè)小信號合在一起然后送至被測放大器（AUT），然后在改變大信號的功率時(shí)（使用功率掃描），測量小信號的S21相位。

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。