
天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
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主營(yíng):測試儀器
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矢網(wǎng)的校準,是準確測量前的必要準備工作,校準方法和步驟是矢網(wǎng)標準功能之一,按步驟連接一系列校準件(已知S參數的器件),使測試接口的幅相校準調零。在使用網(wǎng)絡(luò )分析儀的過(guò)程中,有很多工程師都會(huì )存在一些誤差,而這些誤差有:漂移誤差、隨機誤差、系統誤差。這三種誤差也是在測試過(guò)程中比較常見(jiàn)的誤差情況。
系統誤差是由于儀表內部測試裝置的不理想引起的。它是可預知和重復出現的,一般情況下是不隨時(shí)間變化的,從而可以定量進(jìn)行描述,在測試之前可通過(guò)校準消除系統誤差。






反射測試中,定向耦合器對于被測件反射信號而言是正向連接,定向耦合器耦合端輸出反映反射信號信息。
網(wǎng)絡(luò )分析儀測試反射特性時(shí),由于定向耦合器有限的方向性影響,耦合器耦合端會(huì )包含泄露的輸入激勵信號,該信號會(huì )與反射信號進(jìn)行矢量疊加,造成反射指標測試誤差。被測件匹配性能越好,定向耦合器方向性對測試影響越大。由功分器,定向耦合器及輸出端得到的信號輸入到相應接收機進(jìn)行處理,為對這些信號進(jìn)行分析,網(wǎng)絡(luò )分析儀內置多臺接收機。
兩個(gè)內置信號源的性能增強也會(huì )簡(jiǎn)化放大器和混頻器測量。例如,測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm(取決于型號和頻率)。這對將放大器驅動(dòng)到非線(xiàn)性區很有幫助,并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時(shí)也經(jīng)常要這樣。這兩個(gè)內置信號源的諧波成分也非常低(通常為–60 dBc 或更低),從而提高諧波和IMD測量的精度。此外,典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時(shí)很容易就可以讓放大器從線(xiàn)性工作范圍轉化到非線(xiàn)性工作范圍。

吳經(jīng)理先生
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