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將待測天線(xiàn)作為發(fā)射端，而探頭作為接收端（注：可以根據具體情況進(jìn)行收發(fā)轉換）。在發(fā)射端，由VNA1000A產(chǎn)生信號（如需要可增加功率放大器，將測試頻段的輸出功率放大到所需的電平）通過(guò)定向耦合器耦合部分功率作為參考信號，輸入至網(wǎng)絡(luò )分析儀，在高頻段（如：X波段以上）為了減少路徑損耗和路徑相位的變化，參考信號通過(guò)混頻變化為較低的頻率（中頻）輸入至網(wǎng)絡(luò )分析儀。網(wǎng)絡(luò )分析儀的接收通道可以自由設定接收機的頻率至中頻。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí)，縮短測試時(shí)間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數（S參數）的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件（如第二個(gè)信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

與其它方法相比，使用VNA進(jìn)行以上測量有三個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先，只用一臺測試儀器，只進(jìn)行一次連接便能對全部參數進(jìn)行測量：S參數、增益壓縮、輸出諧波、IMD等等。其次，與使用頻譜分析儀相比，用功率計對VNA進(jìn)行校準之后，測量精度更高。后，如果使用一臺頻譜分析儀和兩個(gè)獨立的信號源進(jìn)行同樣的測試，完成測試需要花幾分鐘的時(shí)間，但使用PNA-X只需0.6秒。

相位與驅動(dòng)的關(guān)系是用PNA-X很容易完成的另一種常見(jiàn)的雙信號源測試。這個(gè)測試參數表征的是當在相鄰通道或帶外存在大信號時(shí)，放大器處理小信號的能力。測試的方法是把不同頻率的一個(gè)大信號和一個(gè)小信號合在一起然后送至被測放大器（AUT），然后在改變大信號的功率時(shí)（使用功率掃描），測量小信號的S21相位。