
天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟技術(shù)開(kāi)發(fā)區賽達九緯路七號電子城大數據產(chǎn)業(yè)園10號樓314-315室
主營(yíng):測試儀器
業(yè)務(wù)熱線(xiàn):022-58530359
QQ:89244198
近場(chǎng)掃描技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)如下:
(1) 理論嚴格:包含探頭特性的全部數據都被表示為麥克斯韋方程解的線(xiàn)性組合,而未引入小角度,標量繞射等近似解。
(2) 精度高:消除了遠場(chǎng)測量的近距效應,各種誤差源可以檢測并補償,信噪比高,重復性好。
(3) 信息量大:一次掃描可獲得整個(gè)空間全部信息,如幅度、相位、極化、三維方向圖等。
(4) 診斷功能:通過(guò)重建口徑場(chǎng),可以發(fā)現常規遠場(chǎng)測量難以發(fā)現的故障。對相控陣天線(xiàn),通過(guò)診斷測試對AUT口徑面存在的失效、超差、誤碼等進(jìn)行識別、標定,為更換器件修正通道誤差提供依據。






在網(wǎng)絡(luò )分析儀上執行頻譜分析不僅可以避開(kāi)耗時(shí)的切換和復雜的硬件設置,還可以憑借功能強大的處理器、準確的信號和性能出色的接收機進(jìn)行快速、準確的雜散搜索。使用具有頻譜分析功能的網(wǎng)絡(luò )分析儀,可以同時(shí)查看頻譜和網(wǎng)絡(luò )測量結果,快速找出異常情況而無(wú)需設置第二臺儀器。
在對頻率范圍較寬的器件進(jìn)行增益壓縮表征時(shí),需要測量許多頻率和功率數據點(diǎn)。繁瑣的壓縮測量不僅會(huì )增加測試時(shí)間,還容易出錯。隨著(zhù)毫米波頻率成為主流技術(shù),我們需要在更寬頻率范圍內快速實(shí)施表征。
無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中,工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中,更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中,需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí),縮短測試時(shí)間和降低測試成本。
減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構,它不僅提供的性能和精度,而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數(S參數)的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件(如第二個(gè)信號源和寬帶合路器)能對射頻和微波器件,尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征,讓您對這些器件的性能有更加的了解。

吳經(jīng)理先生
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