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近場(chǎng)掃描技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)如下：

(1) 理論嚴格:包含探頭特性的全部數據都被表示為麥克斯韋方程解的線(xiàn)性組合,而未引入小角度,標量繞射等近似解。

(2) 精度高:消除了遠場(chǎng)測量的近距效應,各種誤差源可以檢測并補償,信噪比高,重復性好。

(3) 信息量大:一次掃描可獲得整個(gè)空間全部信息,如幅度、相位、極化、三維方向圖等。

(4) 診斷功能:通過(guò)重建口徑場(chǎng),可以發(fā)現常規遠場(chǎng)測量難以發(fā)現的故障。對相控陣天線(xiàn)，通過(guò)診斷測試對AUT口徑面存在的失效、超差、誤碼等進(jìn)行識別、標定，為更換器件修正通道誤差提供依據。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

直接測量方案由成都玖錦的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀VNA1000A、掃描支架、近場(chǎng)測試探頭、待測天線(xiàn)支架、主控PC、掃描控制器以及微波暗室組成。將待測天線(xiàn)AUT作為發(fā)射端，測試探頭作為接收端（可根據實(shí)際情況變換）。VNA1000A的一個(gè)端口發(fā)射信號，另一端口作為接收端口。在各掃描點(diǎn)測量接收信號b和發(fā)射信號a的比值（幅度，相位）。在必要的情況下，可以用功率放大器將發(fā)射信號放大，在接收天線(xiàn)后采用低噪聲放大器提高系統靈敏度。

頻率200MHz至20GHz，采用玻璃金屬密封結構，能夠防止化學(xué)品的腐蝕或摩擦。探頭能夠承受–40至 +200℃ 的溫度范圍，可測量材料特性隨頻率和溫度的變化。大邊緣使探頭能夠對平面固體材料、液體和半固體材料進(jìn)行測量。

頻率500MHz至50GHz，能夠輕松地裝進(jìn)發(fā)酵罐、化學(xué)反應室或其他小孔徑的設備中。同時(shí)，細長(cháng)的設計還使它能夠適用于更小的樣品體積。該探頭適用于測量液體和柔潤的半固體。對于可澆鑄材料，探頭的價(jià)格足夠經(jīng)濟，可伸入到材料中無(wú)需取回。這種探頭用作消耗品，因此以三個(gè)一套的方式提供，還可以另購備件。