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遠場(chǎng)測試技術(shù)雖然早成熟，但是由于其對大測試場(chǎng)地和電磁環(huán)境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場(chǎng)產(chǎn)生平面波來(lái)模擬無(wú)線(xiàn)長(cháng)度的場(chǎng)地，另一方面則是用近場(chǎng)測試代替遠場(chǎng)測試。

近場(chǎng)測量的原理是在一個(gè)面上采集待測天線(xiàn)近場(chǎng)數據，然后通過(guò)近遠場(chǎng)變換算法，得到待測天線(xiàn)遠場(chǎng)輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術(shù)，平面近場(chǎng)測量使用為普遍。近場(chǎng)測量的原始數據需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

在反射測試中之所以需要定向耦合器，是利用定向耦合的定向傳輸特性。當把信號由定向耦合器輸入端接入時(shí)，耦合端有耦合輸出，此時(shí)稱(chēng)為正向傳輸，定向耦合器相當于不均分功率分配器。在正向傳輸中，耦合器耦合輸出與輸入功率比值比定義為耦合度。

對于理想定向耦合器，當信號由耦合器輸出端接入反向工作時(shí)，耦合端沒(méi)有輸出。這是因為輸入功率被耦合器內部的負載和主臂終端外接負載所吸收，這就是定向耦合器的單向傳輸性。實(shí)際定向耦合器反向工作時(shí)，耦合端會(huì )有泄露輸出， 反向工作時(shí)耦合端輸出與輸入信號功率比定義為定向耦合器隔離度。

無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí)，縮短測試時(shí)間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數（S參數）的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件（如第二個(gè)信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。