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許多現代器件沒(méi)有同軸連接，需要通過(guò)夾具來(lái)連接同軸儀器，如使用探頭來(lái)測量晶圓上器件，或是用夾子固定小型器件并連接到同軸適配器等。器件與儀器間的物體會(huì )給測量結果帶來(lái)不確定性。消除夾具影響的校準步驟非常繁瑣，還需要使用專(zhuān)門(mén)的校準件。自動(dòng)夾具移除功能提供了一個(gè)向導程序，可以引導你完成設置，并代替你完成所有測量和校正操作。你甚至可以導出嵌入的文件，將夾具移除功能立即應用到其他儀器上。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí)，縮短測試時(shí)間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數（S參數）的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件（如第二個(gè)信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

平衡電路既能降低對電磁干擾的敏感度和又能降低電磁干擾的產(chǎn)生。平衡元件可以是在三個(gè)射頻端口的平衡-單端器件或有四個(gè)端口的平衡-平衡器件。用四端口VNA很容易對這些元件進(jìn)行測試，可以測量差模響應和共模響應以及模式變換項。

這些測試可以用單端激勵或真實(shí)模式激勵來(lái)完成。單端法是每次只測試一個(gè)DUT端口（只需要一個(gè)射頻源）并對差模響應和共模響應以及交叉模式特性進(jìn)行數學(xué)計算。這是快且的技術(shù)，條件是外加功率電平應使AUT保持在線(xiàn)性或適度壓縮的工作區。

在高驅動(dòng)電平條件下測試放大器的平衡性能時(shí)，如果仍然使用單端測量的方法，非線(xiàn)性特性會(huì )引測量結果的嚴重誤差，這就需要真實(shí)（差分或平衡）模式激勵。這種方法將兩個(gè)幅度相同的信號以180°（差模信號）或0°（共模信號）的相位差加到放大器輸入端對上。