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阻抗測量：在時(shí)域中，系統內每個(gè)器件的 S11 都可以被看作是對沖激或階躍函數的響應。這種時(shí)域響應可以提供每個(gè)電路元器件的位置和實(shí)際阻抗。選通：通過(guò)時(shí)域選通，你可以單獨查看每個(gè)元器件的響應，將注意力放到你所關(guān)注的響應上，從而簡(jiǎn)化分析工作，更容易地進(jìn)行設計和調試。

技能2：頻譜分析過(guò)去，工程師們使用頻譜分析儀和信號發(fā)生器來(lái)查找雜散。使用外部頻譜分析儀查找雜散需要將器件連接到信號分析儀和信號發(fā)生器上，通過(guò)掃描來(lái)查找雜散，較為費時(shí)。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

兩個(gè)內置信號源的性能增強也會(huì )簡(jiǎn)化放大器和混頻器測量。例如，測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm（取決于型號和頻率）。這對將放大器驅動(dòng)到非線(xiàn)性區很有幫助，并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時(shí)也經(jīng)常要這樣。這兩個(gè)內置信號源的諧波成分也非常低（通常為–60 dBc 或更低），從而提高諧波和IMD測量的精度。此外，典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時(shí)很容易就可以讓放大器從線(xiàn)性工作范圍轉化到非線(xiàn)性工作范圍。

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。