
天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
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主營(yíng):測試儀器
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隨機誤差是不可預知的,因為它以隨機形式存在,會(huì )隨時(shí)間變化,因此不能通過(guò)校準消除。隨機誤差的主要來(lái)源為儀表內部噪聲,例如,激勵源的相位噪聲、采樣噪聲、中頻接收機本底噪聲、開(kāi)關(guān)動(dòng)作重復性等。
漂移誤差是儀表校準后測試裝置性能的漂移。漂移誤差主要是由于溫度變化造成,可通過(guò)進(jìn)一步校準消除。校準后儀表能夠保持穩定精度的時(shí)間長(cháng)短取決于測量環(huán)境中儀表的漂移速度。直通校準,非常容易執行,主要用于消除頻率響應錯誤。






網(wǎng)絡(luò )分析儀逆Z變換時(shí),常采用加窗功能,窗的作用可以提高時(shí)域分辨率,矩形窗(無(wú)窗)主瓣窄,適用相鄰距離較近并且幅度接近的兩個(gè)脈沖;其它窗型,抑制旁瓣,適用相隔距離較遠并且幅度相差很大的兩個(gè)脈沖。
門(mén)控功能,施加在時(shí)域響應曲線(xiàn),設置時(shí)間門(mén),可以把時(shí)間門(mén)內(或時(shí)間門(mén)外)的時(shí)域響應值置為0,再轉換為頻域(Z變換),目的是定位測量S參數,例如用來(lái)去除多徑反射信號。
基于VNA的測試系統為測量無(wú)線(xiàn)通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動(dòng)力。與傳統VNA相比,Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀的先進(jìn)體系結構具有更大的靈活性,使工程師們可以通過(guò)一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個(gè)信號源和內部寬帶信號合路器,從而簡(jiǎn)化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外,兩個(gè)信號源還可用于IMD、相位隨驅動(dòng)的變化、熱態(tài)S參數和真實(shí)激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。

吳經(jīng)理先生
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