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隨機誤差的三個(gè)主要來(lái)源：

<1>儀器噪聲誤差：是分析儀元件中產(chǎn)生的不希望的電擾動(dòng)。這些擾動(dòng)包括由于接收機的寬帶本底噪聲引起的低電平噪聲；由于測試裝置內部本振源的本底噪聲和相位噪聲引起的高電平噪聲或跡線(xiàn)數據抖動(dòng)。

<2>開(kāi)關(guān)重復性誤差：分析儀中使用了用來(lái)轉換源衰減器設置的機械射頻開(kāi)關(guān)，有時(shí)機械射頻開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)，觸點(diǎn)的閉合不同于其上次動(dòng)作的閉合。在分析儀你內部出現這種情況時(shí)，便會(huì )嚴重影響測量的精度。

<3>連接器重復性誤差：是由于連接器的磨損會(huì )改變電性能。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

如果是信號小的器件，那就需要激勵信號比器件小的1dB壓縮點(diǎn)，需要對應進(jìn)行調整。當然如果是大功率的器件，則要將VNP輸入信號功率減小一些，并且在PA和VNA的輸出輸入間加上對應的衰減器，緩慢進(jìn)行調試即可。對于其它還有特殊點(diǎn)的儀器，還需要進(jìn)行對應的調整。

網(wǎng)絡(luò )分析儀的標準各不相同，其校準件的規格每個(gè)公司也是有一定的區別，例如N和SMA類(lèi)型，其開(kāi)路短路負載為1，-1和0，而進(jìn)行校準時(shí)，需要預先將公司選擇的校準件存入VNA，在校準時(shí)再對比參考得到誤差方程，因此校準件的選擇就比較重要，如果選擇不對的校準件，則整個(gè)過(guò)程都會(huì )有問(wèn)題，因此校準方法、校準件的選擇都要適應性的調整。

無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí)，縮短測試時(shí)間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數（S參數）的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件（如第二個(gè)信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。