
天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟技術(shù)開(kāi)發(fā)區賽達九緯路七號電子城大數據產(chǎn)業(yè)園10號樓314-315室
主營(yíng):測試儀器
業(yè)務(wù)熱線(xiàn):022-58530359
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遠場(chǎng)測試技術(shù)雖然早成熟,但是由于其對大測試場(chǎng)地和電磁環(huán)境的特殊要求,測試非常不方便,人們一方面用緊縮場(chǎng)產(chǎn)生平面波來(lái)模擬無(wú)線(xiàn)長(cháng)度的場(chǎng)地,另一方面則是用近場(chǎng)測試代替遠場(chǎng)測試。
近場(chǎng)測量的原理是在一個(gè)面上采集待測天線(xiàn)近場(chǎng)數據,然后通過(guò)近遠場(chǎng)變換算法,得到待測天線(xiàn)遠場(chǎng)輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術(shù),平面近場(chǎng)測量使用為普遍。近場(chǎng)測量的原始數據需要包含幅度相位信息,儀器設備主要是矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀,或測量接收機、信號源等組成。






內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器,測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用,在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描,但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比,使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善(使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍)。
基于VNA的測試系統為測量無(wú)線(xiàn)通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動(dòng)力。與傳統VNA相比,Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀的先進(jìn)體系結構具有更大的靈活性,使工程師們可以通過(guò)一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個(gè)信號源和內部寬帶信號合路器,從而簡(jiǎn)化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外,兩個(gè)信號源還可用于IMD、相位隨驅動(dòng)的變化、熱態(tài)S參數和真實(shí)激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。

吳經(jīng)理先生
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