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如果是信號小的器件，那就需要激勵信號比器件小的1dB壓縮點(diǎn)，需要對應進(jìn)行調整。當然如果是大功率的器件，則要將VNP輸入信號功率減小一些，并且在PA和VNA的輸出輸入間加上對應的衰減器，緩慢進(jìn)行調試即可。對于其它還有特殊點(diǎn)的儀器，還需要進(jìn)行對應的調整。

網(wǎng)絡(luò )分析儀的標準各不相同，其校準件的規格每個(gè)公司也是有一定的區別，例如N和SMA類(lèi)型，其開(kāi)路短路負載為1，-1和0，而進(jìn)行校準時(shí)，需要預先將公司選擇的校準件存入VNA，在校準時(shí)再對比參考得到誤差方程，因此校準件的選擇就比較重要，如果選擇不對的校準件，則整個(gè)過(guò)程都會(huì )有問(wèn)題，因此校準方法、校準件的選擇都要適應性的調整。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

在網(wǎng)絡(luò )分析儀上執行頻譜分析不僅可以避開(kāi)耗時(shí)的切換和復雜的硬件設置，還可以憑借功能強大的處理器、準確的信號和性能出色的接收機進(jìn)行快速、準確的雜散搜索。使用具有頻譜分析功能的網(wǎng)絡(luò )分析儀，可以同時(shí)查看頻譜和網(wǎng)絡(luò )測量結果，快速找出異常情況而無(wú)需設置第二臺儀器。

在對頻率范圍較寬的器件進(jìn)行增益壓縮表征時(shí)，需要測量許多頻率和功率數據點(diǎn)。繁瑣的壓縮測量不僅會(huì )增加測試時(shí)間，還容易出錯。隨著(zhù)毫米波頻率成為主流技術(shù)，我們需要在更寬頻率范圍內快速實(shí)施表征。

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。